12/04/23 22:02:48.57 5rwzDnMH
>>365です
みなさんご意見ありがとうございます
僕も説明・表現をどうしていいのかわからずで…
この見かたはおかしな考えかと思うのですが
>>365の状態は、C側はインピーダンスが非常に低い受け側ってみなせるのかなって？
（オペアンプとＣの間はＲで分離されている）
ここでＣの電圧を測定したい（Ｒ-C間）とリードを触れた瞬間、Cに使われる定数は0.01u～1uくらいだったりで
簡単に瞬間的にトリガー効果になったり、テスターはインピーダンスが非常に高いものの一応持ってますよね。
テスターのCOMをGNDにしているので、積分のような立ち上がりが起き、浮いたC側は
非常に低インピーダンスの受け側という立場にオペアンプから見ると瞬間的になるんじゃないのかなって…
（>>365さんのご意見はこの辺りのことでしょうか？）
なんというのか回り込む経路が気になるというのか…
で実際に壊したのはセンサICなのです。誤解させてすみません。
>>365のことと直接的には関連ないのです。ごめんなさい。
このセンサＩＣは内部の出力段にオペアンプがあり、その電圧をピンに出してるという一般的なものです。
もちろんオペアンプ単体と混同してのことではなく、このセンサＩＣの出力ピンの特性や内部の等価回路を
追っていくと、>>365の状態で出力ピンを放置しておくと非常に発振しやすいだけでなく最悪破壊に至るかもと思ったのです。
（高くもなく低くもないインピーダンスに対しこの入力負荷容量は随分小さいこと
ロジックレベルのVCCで動くセンサＩＣで直読出来るタイプで調整用の端子が一切ないお手軽ＩＣ
そういうものって色々基準やらなにやらを中で作ってる分、多くをVCCやGNDから経由させ作っている
するとなにかが起きるとそこを経由し、根源である最終段のオペアンプに回り込むだろうなどなど…）
そんなこんながあってこのセンサＩＣの出力の処理は安易にフィルタを入れるより
入力負荷抵抗分を引っ張っておくだけにして、あとは後段のオペアンプに任せたほうがいいという判断をしました
（そうすると資料通りリニアで良好な値が得られたのでデータシートの読み間違えはないだろうと…）
お手軽さと裏腹に非常に気を使うセンサＩＣだということがわかりました、今回の場面では選定ミスです。
一応テストもしていて、>>365の状態に改造して一旦電圧だけ見ようとしたところ大暴れしており
プルダウンすると値が下に張り付くという、この現象はオペアンプの破壊時にありがちですね
危険と思いつつそれでも破壊まで至るとは思っていませんでした
（一体このセンサＩＣはなに？と気になると思いますが、すみません…）
オペアンプ単体でどう表現していいのかわかりませんが、>>365は極端には未使用フォロア処理に
抵抗とコンデンサ入れて放置プレイ状態でしょうか…なんか気持ち悪い気がしたんです。
オペアンプの回路（保護含め）によるのでしょうけど、どうなのでしょう？