15/02/24 12:24:50.45 s9NT8bhB.net
>>245
俺、昔、半導体デバイス（IC.LSI）の検査をやってたんだけど
軍事用に特化された物を除いて、民生用と軍事規格の物は
中身は同じ物だよ。
異なるのは軍事規格の物は
外観検査：パッケージや端子に変形、破損、腐食等が無いか目視で検査する。
バブルリーク検査：フロリナートと言う液体を100℃位まで過熱し、そこへ
デバイスを入れて気泡が発生しないか（ピンホールが無いか）チェックする
熱衝撃試験：デバイスを-40℃から100℃位まで温度を変化させ、それを48時間の間
何度も繰り返す。
エージング：デバイスを90度位に加熱し、72時間通電状態にする（擬似的に数年間
使用したストレスを与える）
通常の動作試験：チェッカーによる動作試験。
等等を全数行ってから試験積みマーキングをした後、出荷した。
つまり、物は同じでも、とても手間が掛かってるのよ。
尚、上記の事は極1例です。