08/09/28 05:21:13
>>660
>>661
実験に使った基板にバッファがかましてあり、その/OE端子がAUTOFEEDに接続されていたのが原因でした。
ポート電圧を直接測定してみるべきでした。
ご迷惑おかけしまして申し訳ありません。
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>>660
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実験に使った基板にバッファがかましてあり、その/OE端子がAUTOFEEDに接続されていたのが原因でした。
ポート電圧を直接測定してみるべきでした。
ご迷惑おかけしまして申し訳ありません。
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>>660
>>661
実験に使った基板にバッファがかましてあり、その/OE端子がAUTOFEEDに接続されていたのが原因でした。
ポート電圧を直接測定してみるべきでした。
ご迷惑おかけしまして申し訳ありません。