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東京・渋谷のビルの外壁に落書きしたとして、警視庁渋谷署は７日、建造物損壊容疑で、オーストラリア国籍の少年（１９）２人を再逮捕した。「街に描かれている落書きを見て、渋谷は落書きしていいと思った」と容疑を認めている。
逮捕容疑は１月１６日未明、東京都渋谷区神南のビル４棟の外壁に、スプレーで「ＬＵＣＩＤ」や「ＳＹＤ」などのアルファベットを落書きしたとしている。
同署によると、２人は日本に観光に来ていた。別のビルの外階段に侵入し、落書きをしていたところを警備員が発見し、１１０番通報。駆けつけた署員が建造物侵入容疑で現行犯逮捕していた。