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任意の偏光を持つテラヘルツ光の解析法を開発 – 早稲田大学
URLﾘﾝｸ(www.waseda.jp)
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図1 任意の偏光を持つテラヘルツ光の解析法
テラヘルツアクロマティック軸対称波長板 (TAS plate) とテラヘルツ検光子を透過後のテラヘルツ光の光強度分布をパイロカメラによって撮像する。これを角度方向に対するテラヘルツ強度分布として
フーリエ変換し、全ての入射偏光のストークスパラメータを算出する。このストークスパラメータによりテラヘルツの強度分布を再計算すると、未知の入射偏光だけでなく、テラヘルツアクロマティック軸対称波長板
透過後のベクトルビームの偏光状態も解析できる。この手法は、ベクトルビームなどの任意の偏光をもつテラヘルツ光を検出するだけでなく、テラヘルツベクトルビームを発生させることもできる。
目に見える可視光から携帯電話などの通信に使われている電波の間にある、周波数が1012ヘルツ付近の電磁波はテラヘルツ光と呼ばれています。テラヘルツ光は、光のような直進性をもつと同時に、電波と
同じような物質透過性を持つことから近年注目されている電磁波です。宇都宮大学、埼玉医科大学、早稲田大学、三次元工学会、アリゾナ大学による共同研究グループは、任意の偏光をもつ
テラヘルツ光の偏光状態をスナップショットで解析する手法を開発しました。これはテラヘルツ光の偏光を制御するために重要な技術です。本成果は物性科学、情報通信、生体計測、天文学、
セキュリティーなどのテラヘルツ光を応用する際の解析法として可能性を大きく広げるものと期待されます。
本成果は、3月24日午前10時（英国時間）英科学誌「Scientific Reports」オンライン版に掲載されました。
ポイント
ベクトルビームなどの任意の偏光をもつテラヘルツ光の偏光状態を瞬時に解析する手法を開発
物性科学、情報通信、生体計測、天文学、セキュリティーなどテラヘルツ光に関する研究への貢献が期待される
レーザー加工機や顕微分析法などの実用も期待される
今後、どのように発展していくか
テラヘルツ光の偏光状態を精密に制御するための解析法として本手法は重要です。偏光状態がよく制御されたテラヘルツ光により分子振動や物質の構造骨格などを解析する物性科学などに寄与し、
将来的には高密度記録媒体の開発を目指した応用発展も期待されます。
（以下略）