13/03/17 15:59:01.60
むきやすいクリ開発容易に＝渋皮の原因遺伝子解明－果樹研究所
独立行政法人「農業・食品技術総合研究機構果樹研究所」（茨城県つくば市）は１５日までに、
日本原産であるニホングリの渋皮のむきやすさが劣性遺伝子によって決定されることを解明し、
この遺伝子の有無を判定できるＤＮＡマーカーを開発したと発表した。
今後、渋皮をむきやすい品種の開発やより効率的な生産につながると期待される。
ニホングリは、果実が大きいなどの優位性を持つ一方、渋皮がむきにくいこともあって消費者から敬遠され、
国内のクリの出荷量は最近２０年で約４０％減少した。
同研究所は、２００７年に品種登録された新品種「ぽろたん」の渋皮がむきやすいことに注目。
交配の組み合わせなどについて調査した結果、渋皮のむきやすさは、特定の劣性遺伝子の状態によって決定されることを解明し、
「ぽろたん」のほか「丹沢」「乙宗」など５品種がこの遺伝子を持っていることを突き止めた。
今回の研究成果を生かせば、渋皮がむきやすい上に「ぽろたん」とは収穫期が異なる品種の開発が容易となる。
また、開発したＤＮＡマーカーを用いて苗の段階から皮がむきやすいクリを選抜して植えることもできるという。（2013/03/15-06:11）
＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿＿
▽記事引用元 時事ドットコム
URLﾘﾝｸ(www.jiji.com)
▽関連
農業・食品技術総合研究機構果樹研究所
ニホングリは渋皮のむける遺伝子を隠し持っていた
URLﾘﾝｸ(www.naro.affrc.go.jp)
写真1. 鬼皮に傷を入れた後、電子レンジ(700W)で2分間加熱したクリ果実
URLﾘﾝｸ(www.naro.affrc.go.jp)
＊ご依頼いただきました。